一、实验设备

      读数显微镜或扩大倍数至少10倍的投影仪，两种设备的读数均应至0.01mm。假如绝缘厚度0.5mm时，需估读小数点后第三位数。      有争议时，选用读数显微镜丈量作为基准办法。      二、试样制备      1.绝缘试样制备：      a)从绝缘上去除一切护层,抽出导体和隔离层(若有的话)。当心操作避免损坏绝缘,表里半导电层若与绝缘粘连在一起,则不必去掉。      b)每一试件由一片绝缘薄片组成,运用恰当的东西(尖利的刀片如剃刀刀片等)沿着与导体轴线相笔直的平面切取薄片。      c)无护套扁平软线的线芯不该分隔。      d) 假如绝缘上有压印符号凹痕,则会使该处厚度变薄,因而试件应取包含该符号的一段。

      2.护套试样制备:      a)去除护套内、外一切元件(若有的话),用一恰当的东西(尖利的刀片如剃刀刀片等)沿笔直于电缆轴线的平面切取薄片。      b)假如护套上有压印符号凹痕,则会使该处厚度变薄,因而试件应取包含该符号的—段。      注：对履行GB/T 5023、GB/T 5013、JB/T 8734、JB/T 8735、JB/T 10491等规范的产品，应在至少相隔1m的三处各取一段电缆样品。      试样需尽量薄且均匀。      三、绝缘厚度丈量实验程序      1.试样预处理：      试样应在温度(23±5)℃环境中至少寄存3h后，进行实验。      2.测验过程：

      将试件于设备的作业面上,切开面与光轴笔直。      a)当试件内侧为圆形时,应按图1径向丈量6点。如是扇形绝缘线芯,则按图⒉丈量6点;      b)当绝缘是从绞合导体上截取时,应按图3和图4径向丈量6点;

      c)当试件外外表高低不平时,应按图5丈量6点;      d)当绝缘内,外均有不行去除的屏蔽层时,屏蔽层厚度应从丈量值中减去,当不透明绝缘内、外均有不行除掉的屏蔽层时,应运用读数显微镜丈量;      e)无护套扁平软线应按图6丈量,两导体之间最短间隔的一半作为绝缘线芯的绝缘厚度。在任何情况下,榜首次丈量应在绝缘最薄处进行。      假如绝缘试件包含压印符号凹痕,则该处绝缘厚度不运用来核算均匀厚度。但在任何情况下,压印符号凹痕处的绝缘厚度应契合有关电缆产品规范中规则的最小值。      若规则的绝缘厚度为0.5mm及以上时,读数应丈量到小数点后两位(以mm计);若规则的绝缘厚度小于0.5mm时,则读数应丈量到小数点后三位,第三位为估计数。

      四、护套厚度丈量实验程序      1.护套试样预处理：      试样应在温度(23±5)℃环境中至少寄存3h后，进行实验。      2.护套测验过程：      将试件置于丈量设备作业面上,切开面与光轴笔直。      a）当试件内侧为圆形时,应按图1径向丈量6点;      b）假如试件的内圆外表实质上是不规整或不光滑的,则应按图7在护套最薄处径向丈量6点;

      c）当试件内侧有导体形成很深的凹槽时,应按图8在每个凹槽底部径向丈量,当凹槽数目超越6个时,应按b)项进行丈量;      d）当因刮胶带或肋条形护套外形引起的护套外外表不规整时,应按图9进行丈量;      e）关于有护套的扁平软线,应按图10在与每个绝缘线芯截面的短轴大致平行的方向及长轴上别离丈量。但无论如何应在最薄处丈量一点;

      f）六芯及以下有护套的扁平电缆应按图11进行丈量:      —在圆弧形两端沿着横截面的长轴进行丈量。      —在扁平的两头,在榜首根和最终一根绝缘线芯上丈量;假如最薄厚度不在上述几回丈量值中,则应添加最薄处及其对面方向上厚度的丈量。      上述规则也适用于六芯以上扁平电缆护套厚度的丈量,但应添加中心绝缘线芯处或许当绝缘线芯为偶数时取中心两个绝缘线芯之一进行丈量。      在任何情况下,应有一次丈量在护套最薄处进行。      假如护套试样包含压印符号凹痕,则该处厚度不运用来核算均匀厚度。但在任何情况下,压印符号凹痕处的护套厚度应契合有关电缆产品规范中规则的最小值。      五、数据处理      测得的绝缘或护套的厚度值的均匀值，修约后作为绝缘或护套厚度的均匀值；一切测得数据的最小值，作为绝缘或护套的最小厚度值。      六、实验记载

     （1）试样编号，试样标准、类型；     （2）实验日期，预处理环境温度及测验时环境温度；     （3）试样各次厚度丈量值；     （4）均匀值、最小值成果。